공정능력지수란?

공정능력지수(C_pk)는 고객의 사양 한계 내에서 산출물을 생산하는 프로세스의 능력을 측정하기 위한 통계적 도구입니다.. 간단히 말해서 고객의 허용 범위 내에서 제품을 생산할 수 있는 생산자의 능력을 측정합니다. 씨_pk 주어진 목표에 얼마나 가깝고 평균 성과에 얼마나 일관성이 있는지 추정하는 데 사용됩니다. 씨_pk 기존 프로세스에 대한 최상의 시나리오를 제공합니다. 또한 성능이 시간이 지남에 따라 일정하다고 가정할 때 미래 프로세스 성능을 예측할 수도 있습니다.

CPS 프로세스 기능에 대해 알아야 할 사항

C_pk 는 한 공정의 표준 공정 능력, C가 높을수록_pk 가치는 프로세스가 좋을수록. 예를 들어 머신 1에는 C가 있습니다._pk 1.7이고 기계 2에는 C가 있습니다._pk 1.1의. C에서_pk 값, 기계 1이 2보다 낫다는 것을 도출할 수 있습니다._pk 사양 한계 및 부품 변동(시그마)을 사용하여 처리된 수율 및 기계 손실에 도달할 수도 있습니다.
C_pk = 또는 >1.33은 공정이 가능하고 사양 한계를 충족함을 나타냅니다.. 이보다 작은 값은 사양에 비해 편차가 너무 넓거나 공정 평균이 목표에서 벗어났음을 의미할 수 있습니다.

Cpk	공정 수율
0.5	86.8%
0.8	98.4%
1.0	99.7%
1.2	99.97%
1.33	99.99%

그래픽 표현

거의 모든 측정이 사양 한계 내에 속하는 프로세스가 유능한 프로세스입니다. 이것은 아래 플롯으로 그림으로 나타낼 수 있습니다.

예 1 :

규격 상한(USL) =16

사양 하한(LSL) = 4

평균(μ)= 10 & 표준편차(σ)= 2

주어진 Cpk를 계산하는 공식은 다음과 같습니다.

C_pk = 최소[USL−μ/3σ,μ−LSL/3σ]

= min[16-10/6, 10-4/6]

= 최소 [1 , 1]

= 1

곡선이 +3에서 -3으로 늘어날 때의 통계적 설명은 99.73%를 차지하는 것으로 믿어지며 여기서 기계는 99.73%의 양호한 부품을 생산합니다.

예 2 :

규격 상한(USL) =18

사양 하한(LSL) = 0

표준편차(σ)= 2

C_pk = 최소[USL−μ/3σ,μ−LSL/3σ]

= min[18-10/6, 10-0/6]

= 최소 [1.33, 1.67]

= 1.33

여기에서는 적어도 기계의 출력의 99.99%가 양호합니다.

확인 : OLED 작동 원리